AFM

• 原子力显微镜（AFM）是一种用于研究物质表面微观结构的重要工具，包括表面形貌、粗糙度、相位图等。此方法具有极高的分辨率，能达到原子级别；可在多种环境下工作，不需要复杂的真空环境；不仅能测量导体、半导体，还能对绝缘体进行测量。